Ho: YAG Kristalak

Ho:YAG Ho³⁺Laser kristal isolatzaileetan dopatutako ioiek 14 laser-kanal ugari erakutsi dituzte, denbora-moduetan funtzionatzen duten CWtik modu blokeatuta.Ho:YAG 2,1 μm-ko laser emisioa sortzeko baliabide eraginkor gisa erabiltzen da⁵I₇-⁵I₈trantsizioa, laser urruneko detekzioa, kirurgia medikoa eta Mid-IR OPOak ponpatzeko, esaterako, 3-5 mikron igorpena lortzeko.Diodo zuzeneko ponpaketa-sistemek eta Tm: Fiber Laser-eko ponpaketa-sistemek malda handiko eraginkortasunak erakutsi dituzte, batzuk muga teorikora hurbilduz.

Uhin-frontearen distortsioa:L/8 hazbeteko @633nm

Desagertze ratioa:> 28 dB

Tolerantzia: diametroa duten hagaxkak:(+0、-0,05)mm,(±0,5) mm

Gainazalaren kalitatea:10/5 Scratch/dig MIL-O-1380A-ren arabera

Paralelismoa:Paralelismoa

Perpendikulartasuna: <5 arku minutu

Irekiera:> %90

Lautasuna:λ/10@ 633 nm

WhatsApp Bidali mezu elektronikoa Deskargatu PDF moduan

Produktuaren xehetasuna

Parametro teknikoak

Proba txostena

Oinarrizko propietateak

Ho3+ kontzentrazio tartea	0,005 - 100 % atomikoa
Igorpenaren uhin-luzera	2.01 um
Laser Trantsizioa	⁵I₇→⁵I₈
Flouresence Bizitza osoan	8,5 ms
Ponpa Uhin-luzera	1,9 um
Hedapen Termikoaren Koefizientea	6,14 x 10^-6 K^-1
Difusibotasun termikoa	0,041 cm² s^-2
Eroankortasun termikoa	11,2 W m^-1 K^-1
Bero espezifikoa (Cp)	0,59 J g^-1 K^-1
Kolpe Termikoen Erresistentzia	800 W m^-1
Errefrakzio-indizea @ 632,8 nm	1.83
Urtze-puntua	1965 ℃
Dentsitatea	4,56 g cm^-3
MOHS gogortasuna	8.25
Gazteen Modulua	335 Gpa
Kristal Egitura	Kubikoa
Orientazio estandarra	<111>
Y3+ Gunearen Simetria	D₂
Sarearen konstantea	a=12,013 Å

Parametro Teknikoak

Wavefront distortsioa	L/8 hazbeteko @633nm
Desagertze-ratioa	> 28 dB
Wavefront distortsioa	L/8 hazbeteko @633nm
Desagertze-ratioa	> 28 dB
Tolerantzia: diametroa duten hagaxkak	(+0、-0,05)mm,(±0,5) mm
Gainazalaren kalitatea	10/5 Scratch/dig MIL-O-1380A-ren arabera
Paralelismoa	<10 arku segundo
Perpendikulartasuna	<5 arku minutu
Irekiera	> %90
Lautasuna	λ/10@ 633 nm
Tolerantzia:Diametroa duten hagaxkak	(+0,-0,05) mm,( ± 0,5) mm
Gainazalaren kalitatea	10/5 Scratch/dig MIL-O-1380A-ren arabera
Paralelismoa	<10 arku segundo
Perpendikulartasuna	<5 arku minutu
Irekiera	> %90
Lautasuna	λ/10@ 633 nm